Hello, Sign in 
Cart 
প্রিয় ,
সেদিন আপনার কার্টে কিছু বই রেখে কোথায় যেন চলে গিয়েছিলেন।
মিলিয়ে দেখুন তো বইগুলো ঠিক আছে কিনা?
Edition, 1998
বইটি বিদেশি প্রকাশনী বা সাপ্লাইয়ারের নিকট থেকে সংগ্রহ করে আনতে আমাদের ৩০ থেকে ৪০ কর্মদিবস সময় লেগে যেতে পারে।
Cash On Delivery
7 Days Happy Return
Principles of Electronic Materials and Devices
TK. 1,598
Software Engineering
TK. 1,246
Mechanical Vibrations (WIND)
TK. 919
Modern Digital And Analog Communication Systems
TK. 1,397
Reinforced Concrete Design
TK. 473
Fundamentals of Digital Circuits
TK. 831
High Voltage Engineering
TK. 467
Antenna Theory and Applications
TK. 1,115
| Title | Characterization and Metrology for ULSI Technology |
| Editor | D.G. Seiler , A.C. Diebold , T.J. Shaffner , E.J. Walters |
| Publisher | American Institute of Physics |
| ISBN | 9781563967535 |
| Edition | Edition, 1998 |
| Number of Pages | 1025 |
| Country | Germany |
| Language | English |
Have a question regarding the product? Ask Us
Please login to write question Login
Cash on delivery
Pay cash at your doorstep
Delivery
All over Bangladesh
Happy return
7 days return facility
0 Item(s)
Subtotal:
Are you sure to remove this from bookshelf?
demo content
